[SE] ::: Scanning Electron Microscope : SEM

Link อัตราค่าบริการ !!!

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด 

Scanning Electron Microscope (SEM)

Brand : FEI   Model : Quanta 250 ,USA

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่มีกำลังขยาย 40 -150,000 เท่า

ทำให้สามารถศึกษาโครงสร้างพื้นผิวขนาดเล็กในระดับไมโครเมตรได้

สามารถถ่ายภาพตัวอย่างได้หลากหลายโดยเลือก MODE ให้เหมาะสมสำหรับตัวอย่างแต่ละประเภท

1. 1.High Vacuum Mode สำหรับตัวอย่างประเภทเป็นของแข็งและนำไฟฟ้า เช่น โลหะ
2. 2.Low Vacuum Mode สำหรับตัวอย่างประเภทเป็นของแข็ง และไม่นำไฟฟ้าเช่น พอลิเมอร์ ยาง เป็นต้น สามารถถ่ายภาพได้โดยไม่จำเป็นต้องทำให้ตัวอย่างนำไฟฟ้าด้วยการเคลือบสารตัวนำไฟฟ้า
3. 3.ระบบสุญญากาศระดับสภาวะแวดล้อม (Environmental SEM) เหมาะกับตัวอย่างที่มีความชื้น สามารถปรับระดับความชื้นและปรับอุณหภูมิต่ำได้ เช่น ตัวอย่างทางชีวภาพ เป็นต้น

นอกจากนี้มีโหมดการวัดเพิ่มเติมคือการวิเคราะห์ธาตุเชิงพลังงาน (Energy Dispersive X-Ray Spectrometer: EDS) เป็นการวิเคราะห์หาธาตุในตัวอย่าง ตั้งแต่เบอริลเลียม (Be) จนถึงคาลิฟอร์เนี่ยม (Cf) วิเคราะห์ได้ทั้งเชิงคุณภาพ และเชิงปริมาณ และสามารถวิเคราะห์การกระจายตัวของธาตุบนพื้นผิวตัวอย่างที่ศึกษาได้

ปริมาณตัวอย่างที่ใช้ในการวิเคราะห์

ชนิดชิ้นงานขนาดไม่เกิน 1x1x1 เซนติเมตร

ชนิดผง น้ำหนักไม่น้อยกว่า 0.5 กรัม

ตัวอย่างผลการวิเคราะห์

หากลูกค้าท่านใดสนใจ สามารถสอบถามรายละเอียดได้ที่

ศูนย์เครื่องมือวิทยาศาสตร์ คณะวิทยาศาสตร์ สจล.

โทร 02-3298400-11 ต่อ 363, 402 หรือ 092-463-9886

Facebook: https://www.facebook.com/Sci.Ins.KMITL/